本文档介绍了测试线插入损耗（IL）鉴定的程序。

不使用正确合格的测试线可能会导致错误的IL测量，从而导致昂贵的返工。

对于按照ISO / IEC和TIA规范进行测试的SMF和MMF安装，适用以下表1中测试线的最大IL限制：

表1, 光纤测试线插入损耗规格

为了获得一致的结果，请在测量之前和测量期间清洁与测试相关的所有连接器，直通连接器和适配器。在开始测量之前，请确保光源已预热。

1.       将启动线连接到仪表并设置参考。为了清楚起见，未显示测试缆轴。

图 1,单芯参数设置

2.  断开测试光纤与仪表的连接，并将被测光纤连接到测试光缆和仪表

图2, 测试线A端测试

3.直接读取插入损耗并与表1进行比较。如果符合规格，请继续下一步。

4.断开被测光缆，反向并重新连接。

图3, 测试线B端测试

5.直接读取插入损耗并与表1进行比较。如果符合规格，则通过被测光缆进行测试